类别:其他仪器>>其他 品牌:日本日置HIOKI
应用TDR方式对高速,高频率电路板进行特性阻抗测试 TDR(时间领域反射测试法): 是一种评价传输线路特性阻抗的不均一性的测试手段 最大测试基板面积600 × 500mm 测试头内置带宽40GHz高频率探针,可进行高精度,宽带宽的测试 使用镜头及激光变位仪保证高精度测试,X-Y-Z-θ轴自动对位 配备高精度标准阻抗校正板,对测试误差进行自动校正
电路板特性阻抗测试 1109的详细介绍