电路板特性阻抗测试 1109-其他-成都戈迪仪器仪表网
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产品详细信息

电路板特性阻抗测试 1109的详细介绍

详细说明
应用TDR方式对高速,高频率电路板进行特性阻抗测试
  • TDR(时间领域反射测试法): 是一种评价传输线路特性阻抗的不均一性的测试手段
  • 最大测试基板面积600 × 500mm
  • 测试头内置带宽40GHz高频率探针,可进行高精度,宽带宽的测试
  • 使用镜头及激光变位仪保证高精度测试,X-Y-Z-θ轴自动对位
  • 配备高精度标准阻抗校正板,对测试误差进行自动校正

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