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名称	分类	品牌
线路噪音探测仪 3144-20 [打开简介]	电子电工频谱分析仪	日本日置HIOKI
使用非直接接触电压传感器即可探测出通信线·电源线的噪音分别频率带的噪音程度、实际表示在水平仪上使用钳式电压传感器探测Common mode的噪音可内部储存64、000个测量数据和时间主机配置存储器，利用USB接口可将数据传入计算机
信号源 7016 [打开简介]	电子电工信号发生器	日本日置HIOKI
同时操控信号产生与测量多用途的测试器能够校验工业设备产生宽幅的信号源并满足电子回路和设备的测试要求
核心测试部 1107-30/-31/-20/-21 [打开简介]	其他仪器其他	日本日置HIOKI
多功能开短路测试微短测试, 可加高电流进行测试
专用治具型IC载板测试机 1107-60 [打开简介]	其他仪器其他	日本日置HIOKI
1107-60 (单片测试，上下自动对位) 1107-61 (步进式拼板测试，上下自动对位)
3418日置红外线测温仪 [打开简介]	环保热工红外测温仪	日本日置HIOKI
非接触的、轻巧、快速温度测量无激光标记 -50°C ～ 500°C (分辨率1 °C )
3460-50日置热像仪 [打开简介]	环保热工红外热像仪	日本日置HIOKI
新型非接触式多点温度测量瞬时测量区域内64各点的温度分布测得数据记录于小型闪存PC卡，用电脑编辑
直流信号源 7011 [打开简介]	电子电工信号发生器	日本日置HIOKI
信号发生和测量可同时进行检查热电偶温度传感器用一个信号单元校准所有的工业设备产生电子电路和设备试验所需的各种信号源
3415-01日置红外线测温仪 [打开简介]	环保热工红外测温仪	日本日置HIOKI
非接触的、轻巧、快速温度测量广范围的测量量程，非接触的快速测量/1.5s（95%）按钮式测量，手离开按钮，测量值被自动保持 2束激光标记和点标记显示测量范围（实际视野）异常温度监测时，激光闪烁且峰鸣器鸣叫相应测量对象，可自由设定放射率（ε）
3416-01日置红外线测温仪 [打开简介]	环保热工红外测温仪	日本日置HIOKI
非接触的、轻巧、快速温度测量广范围的测量量程，非接触的快速测量/1.5s（95%）按钮式测量，手离开按钮，测量值被自动保持 2束激光标记和点标记显示测量范围（实际视野）异常温度监测时，激光闪烁且峰鸣器鸣叫相应测量对象，可自由设定放射率（ε）
3443日置红外线测温仪 [打开简介]	环保热工红外测温仪	日本日置HIOKI
对应温度控制、管理的放射温度计 0.1分辨率，正确、非接触、快速测量/1.6s(95%)广范围温度可使用于恶劣环境的防湿/防尘构造（IP54）用3909接口卡，实现高效率PC计测用专用软件（包含于3909），处理/管理数据因用途可选择的3型号温度的定期点检用3443
3444日置红外线测温仪 [打开简介]	环保热工红外测温仪	日本日置HIOKI
对应温度控制、管理的放射温度计 0.1分辨率，正确、非接触、快速测量/1.6s(95%)广范围温度可使用于恶劣环境的防湿/防尘构造（IP54）用3909接口卡，实现高效率PC计测用专用软件（包含于3909），处理/管理数据因用途可选择的3型号温度的定期点检用3443
3445日置红外线测温仪 [打开简介]	环保热工红外测温仪	日本日置HIOKI
对应温度控制、管理的放射温度计 0.1分辨率，正确、非接触、快速测量/1.6s(95%)广范围温度可使用于恶劣环境的防湿/防尘构造（IP54）用3909接口卡，实现高效率PC计测用专用软件（包含于3909），处理/管理数据因用途可选择的3型号温度的连续收集
数据记录仪8422-51 [打开简介]	工控仪器存储记录仪	日本日置HIOKI
数据记录仪8422-51
存储记录仪8807-51 [打开简介]	工控仪器存储记录仪	日本日置HIOKI
存储记录仪8807-51
存储记录仪8808-51 [打开简介]	工控仪器存储记录仪	日本日置HIOKI
存储记录仪8808-51
波形比较器8731-10 [打开简介]	工控仪器波形比较器	日本日置HIOKI
波形比较器8731-10
任意波形发生器7075/7075-01 [打开简介]	工控仪器波形比较器	日本日置HIOKI
搭配扫描功能的4通道任意波形发生器全通道独立设定、可多现象同时输出操作可同时扫描频率、振幅、偏移电压轴分辨率16bit，最高时标10MHz 可利用记录仪测得的实际波形可在PC环境中生成波形的7990波形生成软件附带
治具型在线测试机 1220 [打开简介]	其他仪器其他	日本日置HIOKI
用作ICT用途使用最新设计测试板对拼板进行同时高速测试通过同公司内部网络进行连接,方便进行数据统一管理支持HIOKI以前机种及其他品牌测试机的数据转换用作功能测试用途可选配功能测试专用板并同GP-IB控制的测试仪表相结合,进行简单的功能测试用作单纯的合格品判断用途可通过使用较少的测试点数,进行宏观检查判断用作高速多通道测试仪用途可进行保证系统整体的测试精度的测试
电路板特性阻抗测试 1109 [打开简介]	其他仪器其他	日本日置HIOKI
应用TDR方式对高速，高频率电路板进行特性阻抗测试 TDR(时间领域反射测试法):　是一种评价传输线路特性阻抗的不均一性的测试手段最大测试基板面积600 × 500mm 测试头内置带宽40GHz高频率探针，可进行高精度，宽带宽的测试使用镜头及激光变位仪保证高精度测试，X-Y-Z-θ轴自动对位配备高精度标准阻抗校正板，对测试误差进行自动校正
飞针式在线测试机 1240 [打开简介]	其他仪器其他	日本日置HIOKI
1240-01: 大型基板的高速检查(Max40步/秒,510 x 610mm) 1240-02: 使用于测试IC引脚的虚焊(是代替1114的新型号) 1240-03: 中型基板的高速检查(Max40步/秒,400 x 330mm)